電壓擊穿試驗(yàn)儀為什么要進(jìn)行耐電壓測(cè)試：
　　
　　電壓擊穿試驗(yàn)儀中電介質(zhì)強(qiáng)度測(cè)試亦稱(chēng)hipot測(cè)試大概是zui多人知道的和經(jīng)常執(zhí)行的生產(chǎn)線(xiàn)安全測(cè)試。

實(shí)際上，表明它的重要性是每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的一部分。

hipot測(cè)試是確定電子絕緣材料足以抵抗瞬間高電壓的一個(gè)非破壞性的測(cè)試。

這是適用于所有設(shè)備為保證絕緣材料是足夠的的一個(gè)高壓測(cè)試。

進(jìn)行hipot測(cè)試的其它原因是它可以查出可能的瑕疵譬如在制造過(guò)程期間造成的漏電距離和電氣間隙不夠。

進(jìn)行型式測(cè)試的時(shí)候hipot測(cè)試是在某些測(cè)試（譬如失效潮態(tài)及振動(dòng)測(cè)試）之后進(jìn)行來(lái)確定是否因?yàn)檫@些測(cè)試造成絕緣的退化。

但是，日常生產(chǎn)進(jìn)行的hipot測(cè)試是制造過(guò)程中的測(cè)試來(lái)確定是否所生產(chǎn)的產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)是與型式測(cè)試所用產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)相同。

電壓擊穿試驗(yàn)儀一些由生產(chǎn)流程造成的缺陷可以通過(guò)在線(xiàn)hipot測(cè)試檢查出來(lái)，例如變壓器繞組電氣間隙和爬電距離小。

這樣的故障可能起因于繞線(xiàn)部門(mén)的一名新操作員。

其它例子包括檢查絕緣材料的針孔瑕疵或發(fā)現(xiàn)一個(gè)過(guò)大的焊點(diǎn)。

大多數(shù)安全標(biāo)準(zhǔn)使用2xU+1000V的慣例作為基本的絕緣材料測(cè)試的依據(jù)這里的U是操作電壓（rms值）。

這個(gè)慣例僅僅作為一個(gè)指導(dǎo)對(duì)于個(gè)別標(biāo)準(zhǔn)特別是IEC60950提供了一個(gè)具體的表格來(lái)定義根據(jù)測(cè)量到的實(shí)際工作電壓來(lái)確定確切的測(cè)試電壓

　　
1.至于使用1000V作為基本慣例的原因是產(chǎn)品的絕緣材料在日常使用中可能承受瞬間過(guò)電壓。

實(shí)驗(yàn)和研究表示這些過(guò)電壓通常高達(dá)1000V。

電壓擊穿試驗(yàn)儀測(cè)試方法：高壓通常是應(yīng)用的在橫跨被測(cè)試絕緣材料的二個(gè)部件之間譬如測(cè)試設(shè)備（EUT）的一次側(cè)電路（PrimaryCircuit）和金屬外殼。

如果絕緣材料在兩個(gè)部件之間是足夠的那么加在兩個(gè)由絕緣體分離的導(dǎo)體之間的大電壓只能產(chǎn)生非常小的電流流過(guò)絕緣體。

雖然這個(gè)小電流是可接受的但是空氣絕緣或固體絕緣不應(yīng)該發(fā)生擊穿。

因此需要注意這個(gè)電流是因?yàn)榫植糠烹娀驌舸┑慕Y(jié)果而不是由于電容聯(lián)結(jié)引起的

標(biāo)簽：

電壓擊穿試驗(yàn)儀

介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀 

耐電壓強(qiáng)度擊穿試驗(yàn)儀

高電壓強(qiáng)度擊穿試驗(yàn)儀